多(duō)功能半導體(tǐ)參數(shù)測試一體(tǐ)機FS-Pro
業界第一個(gè)基于機器(qì)學習算(suàn)法驅動的半導體(tǐ)參數(shù)測試系統
采用人(rén)工智能算(suàn)法驅動，業界首個(gè)集成IV測試、CV測試、低(dī)頻噪聲(1/f noise)于單台儀器(qì)中，無需換線和(hé)
重新探針即可(kě)完成全部低(dī)頻參數(shù)化表征。
采用人(rén)工智能算(suàn)法驅動，業界首個(gè)集成IV測試、CV測試、低(dī)頻噪聲(1/f noise)于單台儀器(qì)中，無需換線和(hé)
重新探針即可(kě)完成全部低(dī)頻參數(shù)化表征。
高(gāo)達200V，3A（脈沖，标準1A），0.1fA的靈敏度。
模塊化架構；
PXI模塊化架構，可(kě)輕松擴展支持生(shēng)産測試（如 WAT）。